Уважаемые клиенты и партнеры!
Компания Rohde & Schwarz приглашает вас со 2 по 5 июня 2014 года посетить ежегодную
III Всероссийскую научно-техническую конференцию «Электроника и микроэлектроника СВЧ».
На конференции наши специалисты выступят с докладами по темам:
- «Решения от компании Rohde & Schwarz по измерению характеристик элементов для радиоэлектронной промышленности»;
- «Измерение параметров нелинейных устройств на оборудовании Rohde&Schwarz и Mesuro».
В рамках конференции пройдет выставка, на которой вы сможете ознакомиться с новинками контрольно- измерительного оборудования Rohde & Schwarz и провести интересующие Вас измерения.
Ждем вас по адресу:
Санкт-Петербургский государственный электротехнический университет «ЛЭТИ» им. В.И. Ульянова (Ленина) (СПбГЭТУ)
г. Санкт-Петербург, улица Профессора Попова, д.5
По дополнительным вопросам обращайтесь к Беззубовой Евгении:
Тел.:+7(812)448-65-08 или E-mail: Evgenia.Bezzubova@rohde-schwarz.com
Для регистрации просим обращаться на сайт конференции (http://mwelectronics.ru/index.html)